顯微分光膜厚量測儀OPTM series 分光干涉式wafer晶圓測厚儀SF-3

USB 3 GigE CoaXPress Camera Link

AIDMS 管理系統 NVIDIA 專業繪圖卡(GPU) WinFast GPU 工作站與伺服器 桌面虛擬化Zero Client

三角雷射 位移感測器 白光共焦 位移感測器 結構光 3D感測器 白光干涉 位移感測器 三角線雷射 2D/3D輪廓儀

AISVision AI 機器視覺瑕疵檢測 AISEHS 智慧工業安全防護平台 DIP 爐前 AI AOI瑕疵檢測系統 邊緣運算電腦平台，Edge AI 加速卡

應用深度學習於 DRAM 模組中焊接點檢查 基於深度學習之輪胎氣泡AOI檢出技術 生產線上出入口安全行為AI監控系統 記憶體模組產品外觀缺陷AOI檢出技術 電子元件的自動化量測及檢測 點雲物體辨識與追蹤演算法 應用高光譜技術發展農業4.0以咖啡豆品質管理 高光譜技術應用以預估火鶴花瓶插壽命 基於點雲資訊之隧道瑕疵檢測 木板瑕疵自動化檢測 鞋面鞋底自動化塗膠產線建置 銅箔瑕疵檢測 大型物件之3D視覺辨識及方位估測 機器臂視角與多軸同步控制 藥物自動辨識系統 融合深度影像及彩色影像校正方法於輪胎瑕疵檢測 高光譜訊號之皮革瑕疵檢測 薄膜電阻基板堆疊自動計數系統

生物辨識與測量 電腦輔助診斷分析系統 文件分析與摘要 智慧監控系統 半色調與影像還原技術 元學習

自動光學檢測設備

研究主旨在於應用先進的控制，訊號處理，與最佳化演算法以解決奈米製像與奈米科技相關的問題，尤其是奈米積體電路的製造與設計。目前主要的研究方向包括： (1)奈米等級微影製程與設備之研發； (2)奈米等級微影與晶片可製造性分析與設計軟體之研發； (3)奈米等級微影製程與設備之控制； (4)應用控制與最佳化演算法於電路自動化設計； (5)感測器與致動器陣列與其訊號處理演算法之研發。 主要研究設備包括：個人電腦、高效能工作站叢集、多種數值運算與製程元件模擬軟體、多種電子設計自動化軟體、高壓電源供應器、示波器、即時資料擷取與控制系統開發平台、奈米定位平台、與次奈米等級雷射干涉儀等。

人臉與虹膜等生物辨識技術 工業4.0與智慧製造 生醫影像與信號處理

AOI瑕疵分類檢測

應用快速視覺定位於TFT-LCD覆晶薄膜自動化檢測 自動化 Ｍelf 檢測系統 自動化熱熔保險絲檢測系統 裸晶圓外觀瑕疵檢測 自動化微鑽頭刀刃檢測 電腦輔助檢驗-基板設計比對 應用電腦視覺於精密鋼珠之表面瑕疵檢測 自動化金屬接點檢測系統

機器學習 (Machine Learning) 計算式智慧 (Computational Intelligence) 影像處理 (Image Processing) 生理信號處理及其應用 (Biosignal Processing & Applications) 人機介面(Human-Computer Interface) 機器人應用 (Intelligent Robot Applications) 肢障人士輔具系統 (Assistive System for the Disabled) 資料探勘 (Data Mining)

結合阻抗控制與機器視覺之EtherCAT機械手臂自主學習系統 基於數據分布架構之機器手臂控制系統開發 高速高精度二維與三維影像定位技術 EtherCAT串列式多軸控制器關鍵技術開發 人工智慧(AI)深度學習之產品外觀瑕疵檢測系統 機器學習應用於光學字元辨識 智慧型工業相機軟韌體技術

3D視覺感測器 Ranger3

中高階雷射模組 可調焦雷射模組 電動可調焦雷射模組 客製化雷射模組