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成功大學/製造資訊與系統研究所/資訊與機電整合實驗室
機構性質：
學術機構
AOI產品類別：
光電/半導體
地址：
701臺南市東區大學路一號 (自強校區照坤精密儀器大樓5F 95507)
全球據點：
亞洲
登記資本額：
不適用
負責人 / 實驗室主持人：
陳響亮教授
員工人數 / 實驗室人數：
13
設立日期：
1994
上市櫃日期：
不適用
業務聯絡人：
陳響亮教授
電話：
(06)2757575 #34221
傳真：
(06)2085334
電子信箱：
slchen@mail.ncku.edu.tw
機構簡介：
本實驗室配合產業需求發展，針對大面積(尺寸)TFT-LCD面板之點、線各式微觀瑕疵及MURA作檢測，主要是改善目前大部份的LCM廠依賴人工目視檢測方式，進而提升檢測精準度及效率。本研究建立一套自動化光學影像檢測系統，欲以視覺檢測方式來取代目前人工目檢方式，硬體整合了CCD、Frame grabber、光學尺、線性馬達平台、鏡頭、及影像處理技術及演算法等系統工具。
供應產品品牌：
-
AOI主力產品 / AOI研究項目：
自動化影像定位系統及其定位標記之應用
TFT-LCD支點、線瑕疵自動化檢測。
SVD背景重建法之TFT-LCD Mura 瑕疵之自動化光學檢測。
應用線性迴歸診斷法於液晶顯示器Mura缺陷自動化檢測之設計與實現。
代表性獎項 / 實績：
1998年英國 The Donald Julius Groen Prize 學術論文獎
工研院頒發之研究"混合機構式多軸工具機"榮獲新型專利權獎狀
友嘉公司所頒贈之"協助民間科技專案技術卓著"獎牌及獎座